高/低溫試驗(yàn)
高/低溫測(cè)試
高溫試驗(yàn)是模擬產(chǎn)品在貯存、裝配和使用過(guò)程中的耐高溫狀況而進(jìn)行的可靠性試驗(yàn)，高溫試驗(yàn)也是最長(zhǎng)用的加速壽命測(cè)試；
低溫試驗(yàn)是確定產(chǎn)品在低溫環(huán)境下貯存和工作的可靠性，包括低溫貯存試驗(yàn)和低溫工作試驗(yàn)。
試驗(yàn)參數(shù)
高溫試驗(yàn)：試驗(yàn)溫度、試驗(yàn)時(shí)間、升溫速率；
低溫試驗(yàn)：試驗(yàn)溫度、試驗(yàn)時(shí)間、降溫速率；
性能影響
高溫試驗(yàn)：材料熱老化、龜裂、變色、軟化、熔融、膨脹，或功能性失效等；
低溫試驗(yàn)：材料表面開裂、脆化，元器件電信號(hào)飄逸、性能改變、功能波動(dòng)等；
推薦標(biāo)準(zhǔn)
GB/T 2423.1-2008 / IEC 60068-2-1：2007 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)A：低溫
GMW3172-2012 電氣－電子元件通用規(guī)范－環(huán)境/耐久性 8.4.2低溫喚醒
GJB150.4A-2009 軍用設(shè)備實(shí)驗(yàn)室環(huán)境試驗(yàn)方法 第4部分:低溫試驗(yàn)
GJB150.4-1986 軍用設(shè)備環(huán)境試驗(yàn)方法 低溫試驗(yàn)
GJB4.3-1983 艦船電子設(shè)備環(huán)境試驗(yàn) 低溫試驗(yàn)
GJB367A-2001 軍用通信設(shè)備通用規(guī)范 A01低溫試驗(yàn)
MIL-STD-810G-2008 環(huán)境工程考慮與實(shí)驗(yàn)室試驗(yàn) 第二部分：502.5低溫
GJB4.4-1983艦船電子設(shè)備環(huán)境試驗(yàn) 低溫貯存試驗(yàn)
ISO16750-4-2010 道路車輛 - 電氣和電子設(shè)備的環(huán)境條件和試驗(yàn)第4部分:氣候負(fù)荷 5.1.1低溫試驗(yàn)
GB/T 28046.4-2011道路車輛電氣及電子設(shè)備的環(huán)境條件和試驗(yàn)第4部分：氣候負(fù)荷 5.1.1低溫試驗(yàn)
VW80000 3.5噸以下汽車電氣和電子部件試驗(yàn)項(xiàng)目、試驗(yàn)條件和試驗(yàn)要求9.1高溫/低溫存放 9.3低溫工作
GB/T 2423.2 / IEC 60068-2-2：2007-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)B：高溫
VW80000 3.5噸以下汽車電氣和電子部件試驗(yàn)項(xiàng)目、試驗(yàn)條件和試驗(yàn)要求 9.1高溫/低溫存放 11.2高溫耐久壽命試驗(yàn)
GMW3172-2012 電氣－電子元件通用規(guī)范－環(huán)境/耐久性 9.4.1高溫老化
GJB 150.3A-2009軍用設(shè)備實(shí)驗(yàn)室環(huán)境試驗(yàn)方法 第4部分:高溫試驗(yàn)
GJB4.2-1983 艦船電子設(shè)備環(huán)境試驗(yàn) 高溫試驗(yàn)
GJB150.3-1986 軍用設(shè)備環(huán)境試驗(yàn)方法 高溫試驗(yàn)
GJB367A-2001 軍用通信設(shè)備通用規(guī)范 A02高溫試驗(yàn)
GJB360A－1996 電子及電氣元件試驗(yàn)方法 方法108 高溫壽命試驗(yàn)
GJB360B－2009 電子及電氣元件試驗(yàn)方法 方法108 高溫壽命試驗(yàn)
MIL-STD-810G-2008 環(huán)境工程考慮與實(shí)驗(yàn)室試驗(yàn) 第二部分 501.5高溫
ISO16750-4-2010 道路車輛-電氣和電子設(shè)備的環(huán)境條件和試驗(yàn)第4部分:氣候負(fù)荷 5.1.2高溫試驗(yàn)
GB/T 28046.4-2011 道路車輛 電氣及電子設(shè)備的環(huán)境條件和試驗(yàn) 第4部分:氣候負(fù)荷5.1.2高溫試驗(yàn)
GB/T 2423.22-2012 /IEC 60068-2-14-2009環(huán)境試驗(yàn) 第2-14部分：試驗(yàn) 試驗(yàn)N：溫度變化
GMW3172-2012 電氣-電子元件通用規(guī)范-環(huán)境/耐久性 9.4.3 PTC帶電溫度循環(huán) 6.9端子的溫度循環(huán)
RTCA-DO-160G：2010 機(jī)載設(shè)備的環(huán)境條件和測(cè)試程序 5溫度變化
ISO16750-4-2010道路車輛 - 電氣和電子設(shè)備的環(huán)境條件和試驗(yàn) 第4部分:氣候負(fù)荷 5.2 溫度變化 5.3 溫度循環(huán)
GB/T 28046.4-2011 道路車輛 電氣及電子裝設(shè)備的環(huán)境條件和試驗(yàn) 第4部分:氣候負(fù)荷 5.2 溫度梯度 5.3 溫度循環(huán)
VW80000 3.5噸以下汽車電氣和電子部件試驗(yàn)項(xiàng)目、試驗(yàn)條件和試驗(yàn)要求9.2梯度溫度試驗(yàn)
JIS C 0025-1988 基本環(huán)境試驗(yàn)程序 第2部分：溫度變化法
JESD22-A104C-2005 試驗(yàn)方法A104C 溫度循環(huán)
GJB548B-2005 微電子器件試驗(yàn)方法和程序 方法 1010.1 溫度循環(huán)
GJB128A-1997 半導(dǎo)體分立器件試驗(yàn)方法 方法1051 溫度循環(huán)（空氣－空氣）
高溫試驗(yàn)是模擬產(chǎn)品在貯存、裝配和使用過(guò)程中的耐高溫狀況而進(jìn)行的可靠性試驗(yàn)，高溫試驗(yàn)也是最長(zhǎng)用的加速壽命測(cè)試；
低溫試驗(yàn)是確定產(chǎn)品在低溫環(huán)境下貯存和工作的可靠性，包括低溫貯存試驗(yàn)和低溫工作試驗(yàn)。
試驗(yàn)參數(shù)
高溫試驗(yàn)：試驗(yàn)溫度、試驗(yàn)時(shí)間、升溫速率；
低溫試驗(yàn)：試驗(yàn)溫度、試驗(yàn)時(shí)間、降溫速率；
性能影響
高溫試驗(yàn)：材料熱老化、龜裂、變色、軟化、熔融、膨脹，或功能性失效等；
低溫試驗(yàn)：材料表面開裂、脆化，元器件電信號(hào)飄逸、性能改變、功能波動(dòng)等；
推薦標(biāo)準(zhǔn)
GB/T 2423.1-2008 / IEC 60068-2-1：2007 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)A：低溫
GMW3172-2012 電氣－電子元件通用規(guī)范－環(huán)境/耐久性 8.4.2低溫喚醒
GJB150.4A-2009 軍用設(shè)備實(shí)驗(yàn)室環(huán)境試驗(yàn)方法 第4部分:低溫試驗(yàn)
GJB150.4-1986 軍用設(shè)備環(huán)境試驗(yàn)方法 低溫試驗(yàn)
GJB4.3-1983 艦船電子設(shè)備環(huán)境試驗(yàn) 低溫試驗(yàn)
GJB367A-2001 軍用通信設(shè)備通用規(guī)范 A01低溫試驗(yàn)
MIL-STD-810G-2008 環(huán)境工程考慮與實(shí)驗(yàn)室試驗(yàn) 第二部分：502.5低溫
GJB4.4-1983艦船電子設(shè)備環(huán)境試驗(yàn) 低溫貯存試驗(yàn)
ISO16750-4-2010 道路車輛 - 電氣和電子設(shè)備的環(huán)境條件和試驗(yàn)第4部分:氣候負(fù)荷 5.1.1低溫試驗(yàn)
GB/T 28046.4-2011道路車輛電氣及電子設(shè)備的環(huán)境條件和試驗(yàn)第4部分：氣候負(fù)荷 5.1.1低溫試驗(yàn)
VW80000 3.5噸以下汽車電氣和電子部件試驗(yàn)項(xiàng)目、試驗(yàn)條件和試驗(yàn)要求9.1高溫/低溫存放 9.3低溫工作
GB/T 2423.2 / IEC 60068-2-2：2007-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)B：高溫
VW80000 3.5噸以下汽車電氣和電子部件試驗(yàn)項(xiàng)目、試驗(yàn)條件和試驗(yàn)要求 9.1高溫/低溫存放 11.2高溫耐久壽命試驗(yàn)
GMW3172-2012 電氣－電子元件通用規(guī)范－環(huán)境/耐久性 9.4.1高溫老化
GJB 150.3A-2009軍用設(shè)備實(shí)驗(yàn)室環(huán)境試驗(yàn)方法 第4部分:高溫試驗(yàn)
GJB4.2-1983 艦船電子設(shè)備環(huán)境試驗(yàn) 高溫試驗(yàn)
GJB150.3-1986 軍用設(shè)備環(huán)境試驗(yàn)方法 高溫試驗(yàn)
GJB367A-2001 軍用通信設(shè)備通用規(guī)范 A02高溫試驗(yàn)
GJB360A－1996 電子及電氣元件試驗(yàn)方法 方法108 高溫壽命試驗(yàn)
GJB360B－2009 電子及電氣元件試驗(yàn)方法 方法108 高溫壽命試驗(yàn)
MIL-STD-810G-2008 環(huán)境工程考慮與實(shí)驗(yàn)室試驗(yàn) 第二部分 501.5高溫
ISO16750-4-2010 道路車輛-電氣和電子設(shè)備的環(huán)境條件和試驗(yàn)第4部分:氣候負(fù)荷 5.1.2高溫試驗(yàn)
GB/T 28046.4-2011 道路車輛 電氣及電子設(shè)備的環(huán)境條件和試驗(yàn) 第4部分:氣候負(fù)荷5.1.2高溫試驗(yàn)
GB/T 2423.22-2012 /IEC 60068-2-14-2009環(huán)境試驗(yàn) 第2-14部分：試驗(yàn) 試驗(yàn)N：溫度變化
GMW3172-2012 電氣-電子元件通用規(guī)范-環(huán)境/耐久性 9.4.3 PTC帶電溫度循環(huán) 6.9端子的溫度循環(huán)
RTCA-DO-160G：2010 機(jī)載設(shè)備的環(huán)境條件和測(cè)試程序 5溫度變化
ISO16750-4-2010道路車輛 - 電氣和電子設(shè)備的環(huán)境條件和試驗(yàn) 第4部分:氣候負(fù)荷 5.2 溫度變化 5.3 溫度循環(huán)
GB/T 28046.4-2011 道路車輛 電氣及電子裝設(shè)備的環(huán)境條件和試驗(yàn) 第4部分:氣候負(fù)荷 5.2 溫度梯度 5.3 溫度循環(huán)
VW80000 3.5噸以下汽車電氣和電子部件試驗(yàn)項(xiàng)目、試驗(yàn)條件和試驗(yàn)要求9.2梯度溫度試驗(yàn)
JIS C 0025-1988 基本環(huán)境試驗(yàn)程序 第2部分：溫度變化法
JESD22-A104C-2005 試驗(yàn)方法A104C 溫度循環(huán)
GJB548B-2005 微電子器件試驗(yàn)方法和程序 方法 1010.1 溫度循環(huán)
GJB128A-1997 半導(dǎo)體分立器件試驗(yàn)方法 方法1051 溫度循環(huán)（空氣－空氣）
